来自晶圆前道工艺的晶圆通过划片工艺后,被切割为小的晶片,然后将切割好的晶片用胶水贴装到相应的基板(引线框架)架的小岛上,再利用超细的金属(金、锡、铜、铝)导线或者导电性树脂将晶片的接合焊盘连接到基板的相应引脚,并构成所要求的电路;然后再对独立的晶片用塑料外壳加以封装保护。
塑封之后,还要进行一系列操作,如后固化、切筋和成型、电镀以及打印等工艺。封装完成后进行成品测试,通常经过入检、测试、和包装、等工序,最后入库出货。
典型的封装工艺流程为:划片 装片 键合 塑封 去飞边 电镀 打印 切筋和成型 外观检查 成品测试 包装出货。
集成电路是电子信息产业的基石,而IC设计作为集成电路产业链上游,是最具发展活力和创新的重要环节,具有高投入、高风险、高产出的特点。
近年来中国芯片设计产业在提升自给率、政策支持、规格升级与创新应用等要素的驱动下,保持了高速成长的趋势。根据SEMI数据,我国芯片设计行业保持了较快的增长态势,2020年我国芯片设计行业销售额首次突破500亿美元,全行业设计企业数量为2218家,同比增长24.6%。
根据芯片的制造流程,分为主产业链和支撑产业链。主产业链分为设计、制造和封测。其中,芯片设计是关键,芯片制造最难突破,芯片封测国内已经发展到全球先进水平。支撑产业链包括IP、EDA、材料和设备。
芯片设计在集成电路产业链的上游顶端,行业公司具有较大的价值量,行业整体呈现出“小而美”的特征,是半导体产业链中赚钱的环节。整体毛利率都在30%以上,都属于轻资产模式,固定资产周转率及ROE水平处于相对较高位置。其包含电路设计、版图设计和光罩制作。设计方面的主要环节是电路设计,需要考虑多方面因素以及涉及多元知识结构。版图设计和光罩制作可以借助计算机程序。芯片设计主要由于芯片核心的底层架构(知识产权和技术壁垒)被掌握在少数厂商手中,专利费可能达到设计成本的50%以上。
芯片设计流程主要可分为前端设计(Front end)与后端设计(Backend),其中前端设计(也称为逻辑设计)主要涉及芯片的功能设计,后端设计(也称为物理设计)主要涉及工艺有关的设计,使其成为具备制造意义的芯片。
芯片设计和生产流程图:
半导体的生产过程可分为晶圆制造工序(Wafer Fabrication)、封装工序(Packaging)、测 试工序(Test)等几个步骤。其中晶圆制造工序为前道(Front End)工序,而封装工序、测试 工序为后道(Back End)工序。封装是指将生产加工后的晶圆进行切割、焊线塑封,使电路与 外部器件实现连接,并为半导体产品提供机械保护,使其免受物理、化学等环境因素损失的工艺。测试是指利用专业设备,对产品进行功能和性能测试,测试主要分为中测和终测两种。
目前总共有上千种独立的封测类型并且没有统一的系统来识别它们。有些以它们的设计命名(DIP,扁平型,等等),有些以其结构技术命名(塑封,CERDIP,等等),有的按照体积命名,其他的以其应用命名。 晶圆代工厂制造完成的晶圆在出厂前会经过一道电性测试,称为晶圆可接受度测试(Wafer Acceptance Test,WAT),WAT 测试通过的晶圆被送去封测厂。封测厂首先对晶圆进行中测(Chip Probe,CP)。由于工艺原因会引入各种制造缺陷,导致晶圆上的裸 Die 中会有一定量的残次品, CP 测试的目的就是在封装前将这些残次品找出来,缩减后续封测的成本。在完成晶圆制造后, 通过探针与芯片上的焊盘接触,进行芯片功能的测试,同时标记不合格芯片并在切割后进行筛选。CP 测试完成后进入封装环节,封装工艺流程一般可以分为两个部分,用塑料封装之前的工艺步 骤称为前段操作,在成型之后的工艺步骤称为后段操作。基本工艺流程包括晶圆减薄、晶圆切割、 芯片贴装、固化、芯片互连、注塑成型、去飞边毛刺、上焊锡、切筋成型、打码等。因封装技术 不同,工艺流程会有所差异,且封装过程中也会进行检测。封装完成后的产品还需要进行终测 (Final Test,FT),通过 FT 测试的产品才能对外出货。 根据封装材料的不同,半导体封装可分为塑料封装、金属封装、陶瓷封装和玻璃封装。塑料 封装是通过使用特制的模具,在一定的压力和温度条件下,用环氧树脂等模塑料将键合后的半成 品封装保护起来,是目前使用最多的封装形式。金属封装以金属作为集成电路外壳,可在高温、 低温、高湿、强冲击等恶劣环境下使用,较多用于军事和高可靠民用电子领域。陶瓷封装以陶瓷 为外壳,多用于有高可靠性需求和有空封结构要求的产品,如声表面波器件、带空气桥的 GaAs 器件、MEMS 器件等。玻璃封装以玻璃为外壳,广泛用于二极管、存储器、LED、MEMS 传感 器、太阳能电池等产品。其中金属封装、陶瓷封装和玻璃封装属于气密性封装,能够防止水汽和 其他污染物侵入,是高可靠性封装;塑料封装是非气密性封装。