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Bruker DektakXT台阶仪
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Bruker DektakXT台阶仪

全新的 DektakXT 采用具有单拱龙门式设计,配备全彩HD 摄像机,并且利用 64 位同步数据处理模式完成精准测量和操作效率的台阶仪。过去四十多年间,布鲁克的台阶仪研制和生产一直在实践上不断实现创新,DektakXT 延续了这种开创性的风格。

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    商品描述

    全新的 DektakXT 采用具有单拱龙门式设计,配备全彩HD 摄像机,并且利用 64 位同步数据处理模式完成精准测量和操作效率的台阶仪。过去四十多年间,布鲁克的台阶仪研制和生产一直在实践上不断实现创新,DektakXT 延续了这种开创性的风格。


    产品简介


    全新的 DektakXT 采用具有单拱龙门式设计,配备全彩HD 摄像机,并且利用 64 位同步数据处理模式完成精准测量和操作效率的台阶仪。过去四十多年间,布鲁克的台阶仪研制和生产一直在实践上不断实现创新,DektakXT 延续了这种开创性的风格。


    主要应用


    1、 主要用于膜厚、应力、表面粗糙度和表面形貌的测量,实现纳米尺度的表面轮廓测量;


    2、 广泛应用于半导体器件、MEMS、金属镀层、油漆镀层、玻璃镀膜、太阳能、LED、触摸屏、医疗等领域。


    主要参数


    垂直量程

    1mm

    垂直分辨率

    最大 0.1nm

    单次扫描长度

    55mm ( 最大 200mm)

    最大样品高度

    50mm

    样品台尺寸

    100mmX100mm (手动) 150mmX150mm(自动)

    样品台旋转

    360 度连续旋转

    台阶测试精度

    <5Å( 1sigma on 1μm step)


    选型

    型号价格库存
    DektakXT面议有货