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Bruker ContourGT-K 白光干涉仪
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Bruker ContourGT-K 白光干涉仪

ContourGT-K 三维光学轮廓仪具有完善的表面测量和分析功能,拥有较高的测量性能和灵活性。采用专利白光干涉技术

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    商品描述

    ContourGT-K 三维光学轮廓仪具有完善的表面测量和分析功能,拥有较高的测量性能和灵活性。采用专利白光干涉技术


    产品简介


    ContourGT-K 三维光学轮廓仪具有完善的表面测量和分析功能,拥有较高的测量性能和灵活性。采用专利白光干涉技术,大视野内埃级至毫米级的垂直计量量程,具有高垂直分辨率和测量重复性。其直观的用户界面方便用户快速高效的获得材料表面粗糙度、二维 / 三维表面轮廓以及多种高精度数据,广泛应用于 IC 半导体、LED、太阳能电池、薄膜材料、MEMS、精密机械零部件、摩擦磨损等领域,满足各种表面测量的实际需求。


    主要应用


    1、 用于较大范围的样品表面形貌、粗糙度、三维轮廓等特性的快速测量;


    2、 广泛应用于半导体材料表面粗糙度、陶瓷基板的翘曲度、激光刻蚀痕迹、BUMP 三维结构、MEMS 器件关键尺寸、TSV 孔尺寸和精密机械加工部件等领域的测量。


    主要参数


    垂直量程

    0.1nm 至 10mm(闭环无拼接)

    垂直分辨率

    0.1nm

    电动样品台移动范围

    ±150mm (XY 轴 )/100mm(Z 轴 ),XYZ 三轴自动

    横向取样间隔

    0.1µm 至 13.2µm ( 由配备的 FOV 目镜和干涉物镜倍数决定 )

    光学横向分辨率

    最高 350nm

    台阶测试精度

    0.75%

    台阶重复性

    <0.1% 1σ

    倾斜调整

    手动样品台调节 ± 6°

    垂直扫描速度

    最快 47um / 秒,用户可自行设定

    转塔调节

    手动自动可选

     

    分析软件功能

    可进行两维和三维分析,多区域自动分析(可对目标区域进行统计编号,可自动分析目标区域内高度或深度分布情况),可分析表面粗糙度,可分析样品表面缺陷及台阶高度, 并可对多次测量数据进行统计,得到详细的统计报告(含平均值,方差,最小值,最大值等)。可进行编程自动多点测量。可提供的数据包括高逼真度的三维图像,二维剖面图, 以及大量完整的表面粗糙度参数。


    选型

    型号价格库存
    ContourGT-K 面议有货