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Nordson Dage Quadra5 X光无损检测
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Nordson Dage Quadra5 X光无损检测

Nordson DAGE Quadra5 X射线检测系统可用于各种二维和三维X射线应用，不但性能高而且操作简单。10W以内0.35微米特征分辨率 (可选配20W) 使Quadra 5成为表面贴装和半导体封装检测的理想选择。

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    Nordson DAGE Quadra5 X射线检测系统可用于各种二维和三维X射线应用，不但性能高而且操作简单。10W以内0.35微米特征分辨率 (可选配20W) 使Quadra 5成为表面贴装和半导体封装检测的理想选择。

    产品简介


    Nordson DAGE Quadra5 X射线检测系统可用于各种二维和三维X射线应用，不但性能高而且操作简单。10W以内0.35微米特征分辨率 (可选配20W) 使Quadra 5成为表面贴装和半导体封装检测的理想选择。


    主要特点


    ·高功率下保持高特征分辨率


    ·AXis - X射线图像主动防抖


    ·标准的自动检测程序


    ·QFN、BGA、Pad、金线线弧偏移


    ·μCT和X-Plane 等可选附加设备，用于虚拟切片，且无需进行切割


    选型

    型号价格库存
    DAGE Quadra5面议有货